ペリテックの製品紹介

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EMIテスタ:電磁ノイズ発生源を逃がさずキャッチ

ペリテックのEMIテスタは、電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。
高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。
測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。

近傍磁界測定装置 EMIテスタ (EMV-200,EMV-100)

EMIテスタ 外観
左: EMV-100  右: EMV-200

自動杖突機構 ■ 自動杖突機構
被測定物に複雑な凹凸が有っても、自動倣い機能で磁界プローブが至近距離を自動トレースするため、 高感度・高分解能の測定が可能です。

■ グラフィック表示
測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。

グラフィック表示

可動
テーブル
動作
範囲
X / Y軸 170 mm 370 mm 300 mm
Z軸 100 mm 230 mm
θ軸 -100 to + 230° deg. ± 360° deg.
位置
精度
X / Y軸 ±0.05 mm
Z軸 ±0.05 mm
θ軸 ±1° deg.
外形寸法(W×D×H) 387 × 405 × 735 mm 617 × 605 × 735 mm 565 × 680 × 1003 mm
重量 20 kg 40 kg 97 kg
統合制御
コントローラ
制御用PC Microsoft Windows 7
( Microsoft Windows 10対応可能 )
ソフトウエア 制御プログラム EMVm5 制御プログラム EMVL5 制御プログラム EMV5
ソフトウエア
オプション
LabVIEW API
電源 AC電源入力 AC 100-230V, 50Hz / 60Hz
消費電力 0.5 kVA max 1.0 kVA max
オプション 測定器 スペクトラムアナライザ (各社対応)
アンテナ 電界アンテナ W07E
磁界アンテナ W07
その他
プリアンプ 100MHz~6GHz, NF=2.5dB, GAIN=36dB
その他
シールドボックス テスターモデルに応じた専用シールドボックスがあります。
EMIテスタ EMV-200 紹介動画 EMI-100,200 紹介スライド

YouTube掲載 リンク

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 新機能オプション 
■ カメラ画像と合成表示

装置に設置したカメラで測定開始時に測定対象の写真撮影を行い、測定した電界・磁界の分布図と重ね合わせて表示させることが可能です。
カメラ画像と合成表示
■ DEMITASNX(NEC)とデータリンク

EMIテスタ(ペリテック)で測定した磁界データの分布図とDEMITASNX(NEC)で使用されたCADデータを重ね合わせて表示させることが可能です。
DEMITASNX(NEC)とデータリンク
■ 時間領域の解析 (APD)

Amplitude Probability Distribution(APD)と計測を多チャンネル同時に行うことが可能になり、通信品質の電磁波ノイズ源の関係解析に貢献します。
時間領域の解析
■ 電磁界同時計測

電磁界同時計測プローブを用いて子機器の近傍EMIを電界と磁界両方を同時に解析することができます。
電磁界同時計測

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ラインナップ

EMV-100より広範囲の測定が可能なEMIテスタです。 EMV-150
電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を電磁界ノイズ測定システムとモーションカメラを組み合わせて3D画面上に電磁ノイズ分布を可視化します。 EMI-360
EMIテスタに対応した電界・磁界プローブです。プローブを取り換えることでご希望に合った測定を行うことができます。 プローブ

サービス

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株式会社ペリテック
群馬県高崎市片岡町
1-17-2
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