EMIテスタ ｜ 電磁波ノイズの分析、測定

ペリテックのＥＭＩテスタは、電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。
高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。
測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。

左: EMV-100 　右: EMV-200

■ 自動杖突機構
被測定物に複雑な凹凸が有っても、自動倣い機能で磁界プローブが至近距離を自動トレースするため、 高感度・高分解能の測定が可能です。

■ グラフィック表示
測定したデータは、多彩な３Ｄグラフィックスで可視化します。

項 目			EMV-100	EMV-150	EMV-200
可動 テーブル	動作 範囲	X / Y軸	170 mm	370 mm	300 mm
		Z軸	100 mm		230 mm
		θ軸	-100 to + 230° deg.		± 360° deg.
	位置 精度	X / Y軸	±0.05 mm
		Z軸	±0.05 mm
		θ軸	±1° deg.
	外形寸法(W×D×H)		387 × 405 × 735 mm	617 × 605 × 735 mm	565 × 680 × 1003 mm
	重量		20 kg	40 kg	97 kg
統合制御 コントローラ	制御用PC		Microsoft Windows 7 ( Microsoft Windows 10対応可能 )
	ソフトウエア		制御プログラム EMVm5	制御プログラム EMVL5	制御プログラム EMV5
	ソフトウエア オプション		LabVIEW API
電源	AC電源入力		AC 100-230V, 50Hz / 60Hz
	消費電力		0.5 kVA max		1.0 kVA max
オプション	測定器		スペクトラムアナライザ (各社対応)
	アンテナ		電界アンテナ　W07E 磁界アンテナ W07 その他
	プリアンプ		100MHz～6GHz, NF=2.5dB, GAIN=36dB その他
	シールドボックス		テスターモデルに応じた専用シールドボックスがあります。

EMIテスタ EMV-200 紹介動画	EMI-100,200 紹介スライド
YouTube掲載　リンク	YouTube掲載　リンク

　新機能オプション　

■ カメラ画像と合成表示 装置に設置したカメラで測定開始時に測定対象の写真撮影を行い、測定した電界・磁界の分布図と重ね合わせて表示させることが可能です。
■ DEMITASNX(NEC)とデータリンク EMIテスタ(ペリテック)で測定した磁界データの分布図とDEMITASNX(NEC)で使用されたCADデータを重ね合わせて表示させることが可能です。
■ 時間領域の解析 (APD) Amplitude Probability Distribution(APD)と計測を多チャンネル同時に行うことが可能になり、通信品質の電磁波ノイズ源の関係解析に貢献します。
■ 電磁界同時計測 電磁界同時計測プローブを用いて子機器の近傍EMIを電界と磁界両方を同時に解析することができます。

EMV-100より広範囲の測定が可能なEMIテスタです。
電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を電磁界ノイズ測定システムとモーションカメラを組み合わせて3D画面上に電磁ノイズ分布を可視化します。
EMIテスタに対応した電界・磁界プローブです。プローブを取り換えることでご希望に合った測定を行うことができます。

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